X线头影测量的主要应用有

  • A: 可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析
  • B: 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
  • C: 可确定错骀畸形的矫治设计
  • D: 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
  • E: 可研究颅面生长发育

答案:

解析: